HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱專用于芯片、PCB等電子產(chǎn)品的可靠性壽命測試，通過非飽和高壓蒸汽環(huán)境（如130℃/85%RH）極速模擬長期濕熱老化效應(yīng)，測試效率較傳統(tǒng)高溫高濕提升數(shù)倍，嚴(yán)格符合JESD22、IPC等國際標(biāo)準(zhǔn)，是半導(dǎo)體及電子封裝行業(yè)進(jìn)行加速壽命評估與缺陷篩選的關(guān)鍵設(shè)備。